資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

信頼性物理 利用可

門田　靖／著 -- 日科技連出版社 -- 2022.5 -- 509.6

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 509.6/ｶﾄﾀ/一般 121715638 一般 利用可

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル 信頼性物理
書名ヨミ シンライセイ　ブツリ
副書名 物理・化学モデルに基づく信頼性検証技術
著者名 門田　靖 ／著, 藤本　直伸 ／著, 木村　忠正 ／監修  
著者ヨミ カドタ，ヤスシ , フジモト，ナオノブ , キムラ，タダマサ  
出版者 日科技連出版社  
出版年 2022.5
ページ数等 ３２４ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般件名 信頼性（工学）  
ISBN 4-8171-9759-5
ISBN13桁 978-4-8171-9759-7
定価 ４７００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120477306
NDC8版 509.6
NDC9版 509.6
NDC10版 509.6
著者紹介 【門田靖】１９５９年生まれ。東京都立大学理学部物理学科卒業。電子通信大学大学院博士課程修了。博士（工学）。１９８１年、（株）リコー入社。本社ＱＡ部門において信頼性・製品安全・環境安全・品質戦略関連部署長を歴任。現在、Ｒ＆Ｄ部門において新規デバイスの信頼性技術開発に携わる。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 
著者紹介 【藤本直伸】１９５５年生まれ。１９７３年、三菱電機（株）入社。品質保証部門・ＬＳＩ研究所において、部品の品質保証を実施。現在、内藤電誠工業（株）技術顧問として、宇宙用ロケット開発支援やＪＡＸＡ関連の技術支援を行っている。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

ページの先頭へ

内容一覧

タイトル 著者名 ページ
これからの技術課題に立ち向かう信頼性物理
第１部　信頼性の基礎と物理的信頼性検証技術（信頼性の基礎；信頼性工学体系と妥当性検証技術；物理的信頼性検証技術）
第２部　故障に至る代表的な因子（信頼性物理に基づく信頼性創り込み；温度；湿度；応力）
第３部　故障メカニズムを説明する物理的・化学的反応（故障メカニズム解明に対する故障解析と信頼性試験の役割；表面・界面の特性と拡散による断線・劣化現象；化学的酸化・腐食による劣化現象；電気的絶縁破壊現象；機械的ストレスによる裁断・摩耗・劣化現象；複合環境による故障メカニズム）
まとめと今後必要となる物理的検証技術

ページの先頭へ