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固体表面キャラクタリゼーション 利用可

山下　弘巳／編著 -- 講談社 -- 2022.3 -- 433.5

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 433.5/ﾔﾏｼ/一般 121704251 一般 利用可

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タイトル 固体表面キャラクタリゼーション
書名ヨミ コタイ　ヒョウメン　キャラクタリゼーション
副書名 機能性材料・ナノマテリアルのためのスペクトロスコピー
著者名 山下　弘巳 ／編著, 吉田　寿雄 ／編著, 田中　庸裕 ／編著  
著者ヨミ ヤマシタ，ヒロミ , ヨシダ，ヒサオ , タナカ，ツネヒロ  
出版者 講談社  
出版年 2022.3
ページ数等 ２９３ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 欧文タイトル：Ｓｏｌｉｄ　Ｓｕｒｆａｃｅ　Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ
一般件名 スペクトル分析 , 固体 , 表面（工学）  
ISBN 4-06-526126-0
ISBN13桁 978-4-06-526126-2
定価 ３８００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120466821
NDC8版 433.5
NDC9版 433.57
著者紹介 【山下弘巳】博士（工学）。大阪大学大学院工学研究科マテリアル生産科学専攻教授。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、現職。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 
著者紹介 【吉田寿雄】博士（工学）。京都大学大学院人間・環境学研究科相関環境学専攻教授。１９９５年京都大学大学院工学研究科分子工学専攻博士課程中途退学。名古屋大学工学部助手、名古屋大学エコトピア科学研究所助教授などを経て、現職。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
総論：固体表面のキャラクタリゼーション
Ｘ線回折法（ＸＲＤ）
Ｘ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）
光電子分光法（ＸＰＳ、ＵＰＳ）
紫外可視分光法（ＵＶ‐ｖｉｓ）・光ルミネセンス分光法（ＰＬＳ）
赤外分光法（ＩＲ）・ラマン分光法・近赤外分光法（ＮＩＲ）
電子スピン共鳴分光法（ＥＳＲ）
核磁気共鳴分光法（ＮＭＲ）
電子顕微鏡（ＳＥＭ、ＴＥＭ、ＳＴＥＭ）
走査型プローブ顕微鏡（ＳＴＭ、ＡＦＭ）
二次イオン質量分析
組成分析
吸着・脱着
昇温法（ＴＧ，ＤＴＡ，ＴＰＤ，ＴＰＲ）
電気化学測定
ケーススタディ

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