資料詳細

機器分析ハンドブック３固体・表面分析編利用可

-- 化学同人 -- 2021.3 -- 433

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
鳥取県立	一般	433/ｷｷﾌ-3/一般	121528973	一般	利用可

タイトル	機器分析ハンドブック
書名ヨミ	キキ　ブンセキ　ハンドブック
巻次	３
巻書名	固体・表面分析編
巻書名	固体・表面分析編
出版者	化学同人
出版年	2021.3
ページ数等	１９６ｐ
大きさ	２１ｃｍ
一般注記	欧文タイトル：Ｈａｎｄｂｏｏｋ　ｏｆ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔａｌ　Ａｎａｌｙｓｉｓ
一般件名	機器分析 , 固体 , 表面（工学）
ISBN	4-7598-2023-X
ISBN13桁	978-4-7598-2023-2
定価	２１００円
問合わせ番号（書誌番号）	1120396214
NDC8版	433
NDC9版	433
NDC10版	433
著者紹介	【宗林由樹】博士（理学）　最終学歴：京都大学大学院理学研究科博士後期課程化学専攻退学　現在：京都大学化学研究所教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
著者紹介	【辻幸一】博士（工学）　最終学歴：東北大学大学院工学研究科博士後期課程修了　現在：大阪市立大学大学院工学研究科教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）

タイトル	著者名	ページ
熱分析
試料準備（固体試料の溶解；分離操作）
原子吸光分析法
誘導結合プラズマ発光分析法（ＩＣＰ‐ＯＥＳ）・質量分析法（ＩＣＰ‐ＭＳ）
蛍光Ｘ線分析法
Ｘ線回折法
Ｘ線光電子分光法
光学顕微鏡
電子顕微鏡（ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＥＰＭＡ）
プローブ顕微鏡