鳥取県立図書館
図書館HP
資料検索
資料紹介
Myライブラリ
ヘルプ
図書館HP
>
本サイトにはJavaScriptの利用を前提とした機能がございます。
お客様の環境では一部の機能がご利用いただけない可能性がございますので、ご了承ください。
資料詳細
詳細蔵書検索
ジャンル検索
1 件中、 1 件目
信頼性七つ道具 応用編
利用可
予約かごへ
二川 清/編著 -- 日科技連出版社 -- 2020.8 -- 509.6
SDI
本棚へ
所蔵は
1
件です。現在の予約件数は
0
件です。
所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
鳥取県立
一般
509.6/ニカワ/一般
121267093
一般
利用可
ページの先頭へ
資料詳細
タイトル
信頼性七つ道具
書名ヨミ
シンライセイ ナナツ ドウグ
巻次
応用編
シリーズ名
信頼性技術叢書
著者名
二川 清
/編著,
石田 勉
/著,
鈴木 和幸
/著,
原田 文明
/著,
古園 博幸
/著,
益田 昭彦
/著,
渡部 良道
/著
著者ヨミ
ニカワ,キヨシ , イシダ,ツトム , スズキ,カズユキ , ハラダ,フミアキ , フルゾノ,ヒロユキ , マスダ,アキヒコ , ワタナベ,ヨシミチ
出版者
日科技連出版社
出版年
2020.8
ページ数等
220p
大きさ
21cm
一般注記
正編は「信頼性七つ道具R7」が該当
一般件名
信頼性(工学)
ISBN
4-8171-9718-8
ISBN13桁
978-4-8171-9718-4
定価
3300円
問合わせ番号(書誌番号)
1120356779
NDC8版
509.6
NDC9版
509.6
NDC10版
509.6
著者紹介
【二川清】1949年大阪市生まれ。大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、同大学院修士課程修了。工学博士。NEC、NECエレクトロニクス、大阪大学などで信頼性の実務と研究開発に従事。現在、デバイス評価技術研究所代表。主な著書に『半導体デバイスの不良・故障解析技術』(編著、日科技連出版社、2019年)など。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
著者紹介
【石田勉】1946年飯山市生まれ。信州大学工学部電気工学科卒業。日本ケミカルコンデンサ(株)で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム(株)で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。現在、日本科学技術連盟主催信頼性セミナー講師。日本信頼性学会シンポジウム実行委員。主な著書に『信頼性七つ道具R7』(共著、日科技連出版社、2008年)など。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
ページの先頭へ
内容一覧
タイトル
著者名
ページ
第1章 信頼性データベース(RDB)
第2章 信頼性設計技法
第3章 FMEA/FTA
第4章 デザインレビュー
第5章 信頼性試験
第6章 故障解析
第7章 ワイブル解析
第8章 信頼性ストーリー
ページの先頭へ