二川 清/編著 -- 日科技連出版社 -- 2020.8 -- 509.6

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 509.6/ニカワ/一般 121267093 一般 利用可

資料詳細

タイトル 信頼性七つ道具
書名ヨミ シンライセイ ナナツ ドウグ
巻次 応用編
シリーズ名 信頼性技術叢書
著者名 二川 清 /編著, 石田 勉 /著, 鈴木 和幸 /著, 原田 文明 /著, 古園 博幸 /著, 益田 昭彦 /著, 渡部 良道 /著  
著者ヨミ ニカワ,キヨシ , イシダ,ツトム , スズキ,カズユキ , ハラダ,フミアキ , フルゾノ,ヒロユキ , マスダ,アキヒコ , ワタナベ,ヨシミチ  
出版者 日科技連出版社  
出版年 2020.8
ページ数等 220p
大きさ 21cm
一般注記 正編は「信頼性七つ道具R7」が該当
一般件名 信頼性(工学)  
ISBN 4-8171-9718-8
ISBN13桁 978-4-8171-9718-4
定価 3300円
問合わせ番号(書誌番号) 1120356779
NDC8版 509.6
NDC9版 509.6
NDC10版 509.6
著者紹介 【二川清】1949年大阪市生まれ。大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、同大学院修士課程修了。工学博士。NEC、NECエレクトロニクス、大阪大学などで信頼性の実務と研究開発に従事。現在、デバイス評価技術研究所代表。主な著書に『半導体デバイスの不良・故障解析技術』(編著、日科技連出版社、2019年)など。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです) 
著者紹介 【石田勉】1946年飯山市生まれ。信州大学工学部電気工学科卒業。日本ケミカルコンデンサ(株)で品質管理、製品開発等に従事後、日本アイ・ビー・エム(株)で、製品保証、ソフトウェア品質、お客様満足度調査等に従事。現在、日本科学技術連盟主催信頼性セミナー講師。日本信頼性学会シンポジウム実行委員。主な著書に『信頼性七つ道具R7』(共著、日科技連出版社、2008年)など。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです) 

内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第1章 信頼性データベース(RDB)
第2章 信頼性設計技法
第3章 FMEA/FTA
第4章 デザインレビュー
第5章 信頼性試験
第6章 故障解析
第7章 ワイブル解析
第8章 信頼性ストーリー