資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析入門 利用可

桜井　健次／編著 -- 講談社 -- 2019.11 -- 433.5

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 433.5/ｻｸﾗ/一般 121180783 一般 利用可

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析入門
書名ヨミ リファレンスフリー　ケイコウ　エックスセン　ブンセキ　ニュウモン
著者名 桜井　健次 ／編著  
著者ヨミ サクライ，ケンジ  
出版者 講談社  
出版年 2019.11
ページ数等 ２４５ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 欧文タイトル：Ｉｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎ　ｔｏ　Ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ‐ｆｒｅｅ　Ｘ‐ｒａｙ　Ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ　Ａｎａｌｙｓｉｓ
一般件名 エックス線分光分析  
ISBN 4-06-513598-2
ISBN13桁 978-4-06-513598-3
定価 ５５００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120301384
NDC8版 433.5
NDC9版 433.57
著者紹介 １９８８年　東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。現在　国立研究開発法人物質・材料研究機構　先端材料解析研究拠点　上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

ページの先頭へ

内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第１章　リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の基礎（元素分析がもたらす社会のイノベーション；蛍光Ｘ線分析法は「元素を色分けして識別する」方法である　ほか）
第２章　リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の適用事例（電気・電子製品の環境規制対応分析；バリアメタル薄膜の軽元素分析　ほか）
第３章　リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の注意事項・事例（高い信頼性を得るための注意事項；コーティングアプリケーションにおける注意事項　ほか）
第４章　いっそう高い信頼性のリファレンスフリー蛍光Ｘ線分析をめざして（信頼性ツールとしての認証標準物質；ラウンドロビンテストの経験　ほか）
付録　リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の情報源（物理定数；認証標準物質　ほか）

ページの先頭へ