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Ｘ線反射率法入門 利用可

桜井　健次／編著 -- 講談社 -- 2018.6 -- 549.8

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 549.8/ｻｸﾗ/一般 120526753 一般 利用可

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タイトル Ｘ線反射率法入門
書名ヨミ エックスセン　ハンシャリツホウ　ニュウモン
著者名 桜井　健次 ／編著  
著者ヨミ サクライ，ケンジ  
出版者 講談社  
出版年 2018.6
ページ数等 ３６９ｐ
大きさ ２１ｃｍ
版表示 新版
一般注記 欧文タイトル：Ｉｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎ　ｔｏ　Ｘ‐ｒａｙ　Ｒｅｆｌｅｃｔｉｖｉｔｙ
一般件名 薄膜 , エックス線回折  
ISBN 4-06-153296-0
ISBN13桁 978-4-06-153296-0
定価 ６３００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120201762
NDC8版 549.8
NDC9版 549.8
著者紹介 工学博士。東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務。（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
１　Ｘ線反射率の基礎
２　Ｘ線反射率の測定装置と測定方法
３　Ｘ線反射率のデータ解析法
４　Ｘ線反射率のデータ解析の注意事項
５　微小領域分析およびイメージングへの展開
６　時々刻々変化する系の追跡への展開
７　Ｘ線反射率法の応用
８　Ｘ線反射率法と併用すると有意義な関連技術
９　中性子の利用

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