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蛍光Ｘ線分析の実際 利用可

中井　泉／編集 -- 朝倉書店 -- 2016.7 -- 433.5

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 書庫 433.5/ｹｲｺ/一般Ｈ 120290260 一般 利用可

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タイトル 蛍光Ｘ線分析の実際
書名ヨミ ケイコウ　エックスセン　ブンセキ　ノ　ジッサイ
著者名 中井　泉 ／編集, 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 ／監修  
著者ヨミ ナカイ　イズミ , ニホン　ブンセキ　カガクカイ  
出版者 朝倉書店  
出版年 2016.7
ページ数等 ２６５ｐ
大きさ ２６ｃｍ
版表示 第２版
一般件名 エックス線分光分析  
ISBN 4-254-14103-3
ISBN13桁 978-4-254-14103-0
定価 ５９００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120040215
NDC8版 433.5
NDC9版 433.57
内容紹介 試料調製、標準物質、蛍光Ｘ船装置スペクトル、定量分析などの基礎項目を平易に解説。さらに、食品中の有害元素分析、放射性大気粉塵の解析、美術品をはじめ文化財への非破壊分析など豊富な応用事例を掲載する。
著者紹介 【中井泉】１９５３年　東京都に生まれる。１９７５年　東京教育大学理学部化学科卒業。１９８０年　筑波大学大学院化学研究科博士課程修了（理学博士）。１９８２年　筑波大学化学系助手、１９８４年　筑波大学化学系講師。１９９４年　東京理科大学理学部助教授、１９９８年　東京理科大学理学部教授　現在至る（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
蛍光Ｘ線分析の基礎
蛍光Ｘ線スペクトル
蛍光Ｘ線分析装置
よりよいスペクトルの測り方、読み方
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光Ｘ線分析法
Ｘ線顕微鏡
ＳＥＭ‐ＥＤＳ
めっき・薄膜の分析
ヘンドヘルド蛍光Ｘ線分析計
放射光利用
新しいアプローチと特殊応用
蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出

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