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ナノ材料解析の実際 利用可

米澤　徹／編著 -- 講談社 -- 2016.6 -- 501.4

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 書庫 501.4/ﾖﾈｻ/一般Ｈ 119957798 一般 利用可

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タイトル ナノ材料解析の実際
書名ヨミ ナノ　ザイリョウ　カイセキ　ノ　ジッサイ
著者名 米澤　徹 ／編著, 朝倉　清髙 ／編著, 幾原　雄一 ／編著  
著者ヨミ ヨネザワ　テツ , アサクラ　キヨタカ , イクハラ　ユウイチ  
出版者 講談社  
出版年 2016.6
ページ数等 ３３８ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 欧文タイトル：Ｐｒａｃｔｉｃａｌ　Ｎａｎｏｍａｔｅｒｉａｌ　Ａｎａｌｙｓｉｓ
一般件名 ナノマテリアル  
ISBN 4-06-154392-X
ISBN13桁 978-4-06-154392-8
定価 ４２００円
問合わせ番号（書誌番号） 1120034214
NDC8版 501.4
NDC9版 501.4
内容紹介 複数の手法を組み合わせて、材料解析を行うことで、材料の本当の姿がみえてくる。「ナノ材料」の解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書。
著者紹介 【米澤徹】博士（工学）　１９９４年　東京大学大学院工学系研究科工業化学専攻博士課程修了　現在　北海道大学大学院工学研究院教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 
著者紹介 【朝倉清髙】理学博士　１９８３年　東京大学大学院理学系研究科化学専攻修士課程修了　現在　北海道大学触媒科学研究所教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第１部　Ｘ線・中性子線（Ｘ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）；顕微ＸＲＦ・顕微ＸＡＦＳ　ほか）
第２部　電子線・プローブ（走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）；集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡（ＦＩＢ‐ＳＥＭ）　ほか）
第３部　そのほかの分析手法（共焦点レーザースキャン顕微鏡（ＬＳＣＭ）；動的光散乱法による粒子径測定　ほか）
第４部　トピックス（ナノ粒子触媒評価；合金ナノ粒子評価　ほか）

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