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1 件中、 1 件目
明日使える光計測の基礎
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東京都立産業技術研究センター/編 -- 日刊工業新聞社 -- 2016.3 -- 501.22
SDI
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所蔵は
1
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0
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
鳥取県立
書庫
501.2/アスツ/一般H
119995763
一般
利用可
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資料詳細
タイトル
明日使える光計測の基礎
書名ヨミ
アス ツカエル ヒカリ ケイソク ノ キソ
著者名
東京都立産業技術研究センター
/編
著者ヨミ
トウキョウ トリツ サンギョウ ギジュツ ケンキュウ センター
出版者
日刊工業新聞社
出版年
2016.3
ページ数等
134p
大きさ
21cm
内容注記
索引あり
一般件名
計測・計測器
,
光学
ISBN
4-526-07556-6
ISBN13桁
978-4-526-07556-8
定価
1700円
問合わせ番号(書誌番号)
1120014306
NDC8版
501.22
NDC9版
501.22
内容紹介
光学計測技術に関する技術的知見やノウハウなどをまとめた。光を利用した技術・製品の事例、光学特性の評価方法なども紹介。
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内容一覧
タイトル
著者名
ページ
第1章 知っておきたい光と熱の基礎(光の発生原理;光が物に当たったときの振る舞い;熱放射を理解するための諸法則;身の回りにある熱放射)
第2章 光と熱を利用した技術と製品(光放射を利用した技術と製品;赤外放射加熱を利用した製品と技術;光を透過・反射・吸収する製品;熱を通す・反射・吸収する製品;光センサ;熱センサ)
第3章 材料・製品の光学特性の測定の実際(紫外から近赤外域の透過率・反射率の測定;赤外域の分光透過率・分光反射率測定;物体の質感を評価するBRDF;赤外放射測定;放射計による放射照度の測定;サーモグラフィによる温度分布の測定;光による断層画像の観察;二次元複屈折計測;分光エリプソメータを用いた薄膜の解析)
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