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マイクロ接合と信頼性設計法
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荘司郁夫/著 -- 科学情報出版 -- 2014.10 -- 566.68
SDI
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所蔵は
1
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
鳥取県立
一般
566.6/シヨウ/一般
119756008
一般
利用可
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資料詳細
タイトル
マイクロ接合と信頼性設計法
書名ヨミ
マイクロ セツゴウ ト シンライセイ セッケイホウ
副書名
エレクトロニクス実装における
シリーズ名
設計技術シリーズ
著者名
荘司郁夫
/著,
折井靖光
/著
著者ヨミ
ショウジ,イクオ , オリイ,ヤスミツ
出版者
科学情報出版
出版年
2014.10
ページ数等
161p
大きさ
21cm
一般件名
はんだ
,
電子機器
ISBN
4-904774-22-1
ISBN13桁
978-4-904774-22-9
定価
3400円
問合わせ番号(書誌番号)
1102097045
NDC8版
566.68
NDC9版
566.68
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内容一覧
タイトル
著者名
ページ
第1章 エレクトロニクス実装技術におけるマイクロ接合(マイクロ接合の定義;マイクロ接合の動向 ほか)
第2章 マイクロ接合部の信頼性評価法(はんだ材の基礎;接合反応の基礎 ほか)
第3章 信頼性試験と取得データの解析手法(加速試験;故障解析方法 ほか)
第4章 BGA・CSP・フリップチップ接合部の信頼性評価例(Coffin‐Manson修正式によるはんだ接合部の熱疲労寿命予測方法;高温放置環境下における反応層の成長評価 ほか)
第5章 マイクロ接合部設計への有限要素解析の活用(有限要素法(FEM);熱サイクル環境における解析法 ほか)
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