荘司郁夫/著 -- 科学情報出版 -- 2014.10 -- 566.68

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 一般 566.6/シヨウ/一般 119756008 一般 利用可

資料詳細

タイトル マイクロ接合と信頼性設計法
書名ヨミ マイクロ セツゴウ ト シンライセイ セッケイホウ
副書名 エレクトロニクス実装における
シリーズ名 設計技術シリーズ
著者名 荘司郁夫 /著, 折井靖光 /著  
著者ヨミ ショウジ,イクオ , オリイ,ヤスミツ  
出版者 科学情報出版  
出版年 2014.10
ページ数等 161p
大きさ 21cm
一般件名 はんだ , 電子機器  
ISBN 4-904774-22-1
ISBN13桁 978-4-904774-22-9
定価 3400円
問合わせ番号(書誌番号) 1102097045
NDC8版 566.68
NDC9版 566.68

内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第1章 エレクトロニクス実装技術におけるマイクロ接合(マイクロ接合の定義;マイクロ接合の動向 ほか)
第2章 マイクロ接合部の信頼性評価法(はんだ材の基礎;接合反応の基礎 ほか)
第3章 信頼性試験と取得データの解析手法(加速試験;故障解析方法 ほか)
第4章 BGA・CSP・フリップチップ接合部の信頼性評価例(Coffin‐Manson修正式によるはんだ接合部の熱疲労寿命予測方法;高温放置環境下における反応層の成長評価 ほか)
第5章 マイクロ接合部設計への有限要素解析の活用(有限要素法(FEM);熱サイクル環境における解析法 ほか)