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はじめてのデバイス評価技術 利用可

二川清／著 -- 森北出版 -- 2012.9 -- 549.8

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 書庫 549.8/ﾆｶﾜ/一般Ｈ 118883391 一般 利用可

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タイトル はじめてのデバイス評価技術
書名ヨミ ハジメテ　ノ　デバイス　ヒョウカ　ギジュツ
著者名 二川清 ／著  
著者ヨミ ニカワ，キヨシ  
出版者 森北出版  
出版年 2012.9
ページ数等 １７９ｐ
大きさ ２２ｃｍ
版表示 第２版
内容細目 文献あり　索引あり
一般注記 初版：工業調査会２０００年刊
一般件名 半導体  
ISBN 4-627-77442-7
ISBN13桁 978-4-627-77442-1
定価 ２４００円
問合わせ番号（書誌番号） 1101884000
NDC8版 549.8
NDC9版 549.8
内容紹介 半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第１章　半導体デバイスの特徴
第２章　デバイス評価技術概要
第３章　信頼性試験
第４章　故障解析
第５章　寿命データ解析
第６章　具体例・応用事例

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