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1 件中、 1 件目
半導体LSI技術
利用可
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牧野博之/著 -- 共立出版 -- 2012.3 -- 549.7
SDI
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所蔵は
1
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0
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
鳥取県立
一般
549.7/マキノ/一般
117655319
一般
利用可
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資料詳細
タイトル
半導体LSI技術
書名ヨミ
ハンドウタイ エルエスアイ ギジュツ
シリーズ名
未来へつなぐデジタルシリーズ
シリーズ巻次
7
著者名
牧野博之
/著,
益子洋治
/著,
山本秀和
/著
著者ヨミ
マキノ,ヒロシ , マシコ,ヨウジ , ヤマモト,ヒデカズ
出版者
共立出版
出版年
2012.3
ページ数等
287p
大きさ
26cm
内容細目
索引あり
原書名
並列タイトル:Semiconductor LSI Technology
一般件名
LSI
ISBN
4-320-12307-7
ISBN13桁
978-4-320-12307-6
定価
2800円
問合わせ番号(書誌番号)
1101843892
NDC8版
549.7
NDC9版
549.7
内容紹介
半導体技術の発展により、現在のICT社会において、LSIは必要不可欠の存在。本書では、LSIの歴史から半導体デバイス、LSI製造プロセスなどについて、基本的な考えから最近技術までを解説する。
著者紹介
【牧野】1983年京都大学理学部卒、三菱電機(株)入社。2003年(株)ルネサステクノロジ。08年より大阪工業大学情報科学部コンピュータ科学科准教授。受賞歴:Best Paper Award等。IEEE会員、電子情報通信学会員。
著者紹介
【益子】1977年東北大学大学院工学研究科博士前期課程修了、三菱電機(株)入社。2003年(株)ルネサステクノロジ。05年より大分大学工学部電気電子工学科教授。IEEE会員、応用物理学会員、LSIテスティング学会員、日本信頼性学会員。主著「品質・信頼性技術」。
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内容一覧
タイトル
著者名
ページ
LSIとはなにか
半導体の物性
半導体デバイス
CMOSデジタル回路
CMOS論理設計
LSI設計フロー
レイアウト設計
LSIの性能
LSIの製造
シリコンウェーハ製造技術
微細パターン形成技術
トランジスタ形成技術
敗戦形成技術
パッケージング技術
計測・検査・評価技術とクリーン化技術
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