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ＬＳＩ故障解析技術 利用可

二川清／著 -- 日科技連出版社 -- 2011.9 -- 549.7

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 書庫 549.7/ﾆｶﾜ/一般Ｈ 118685158 一般 利用可

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タイトル ＬＳＩ故障解析技術
書名ヨミ エルエスアイ　コショウ　カイセキ　ギジュツ
著者名 二川清 ／著  
著者ヨミ ニカワ，キヨシ  
出版者 日科技連出版社  
出版年 2011.9
ページ数等 １９４ｐ
大きさ ２１ｃｍ
版表示 新版
内容細目 文献あり　索引あり
一般注記 初版（工業調査会２００７年刊）のタイトル：ＬＳＩ故障解析技術のすべて
一般件名 集積回路  
ISBN 4-8171-9414-6
ISBN13桁 978-4-8171-9414-5
定価 ３４００円
問合わせ番号（書誌番号） 1101808296
NDC8版 549.7
NDC9版 549.7
内容紹介 ＬＳＩの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第１章　ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド；ＬＳＩの故障の特徴　ほか）
第２章　ＬＳＩ故障解析技術概論（基本の「き」；故障解析の手順　ほか）
第３章　故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例；ロジックＬＳＩ（システムＬＳＩ）の解析事例　ほか）
第４章　新しい故障解析関連手法の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向；ＯＢＩＲＣＨ関連手法発展の流れと最近の動向　ほか）

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