資料詳細

表面分析利用可

石田英之／〔ほか〕著 -- 共立出版 -- 2011.8 -- 428.4

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所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
鳥取県立	書庫	428.4/ｲｼﾀ/一般Ｈ	118608754	一般	利用可

タイトル	表面分析
書名ヨミ	ヒョウメン　ブンセキ
シリーズ名	分析化学実技シリーズ
シリーズ巻次	応用分析編・１
著者名	石田英之／〔ほか〕著
著者ヨミ	イシダ，ヒデユキ
出版者	共立出版
出版年	2011.8
ページ数等	１８２ｐ
大きさ	２１ｃｍ
内容細目	索引あり
原書名	並列タイトル：Ｓｕｒｆａｃｅ　Ａｎａｌｙｓｉｓ
一般件名	表面（工学）
ISBN	4-320-04391-X
ISBN13桁	978-4-320-04391-6
定価	２９００円
問合わせ番号（書誌番号）	1101800515
NDC8版	428.4
NDC9版	428.4
内容紹介	長年、表面分析の第一線で様々な試料について分析を行ってきた経験豊富な専門の研究者が執筆した、実用的な表面分析の解説書。表面分析手法の装置・原理に始まり、測定法・解析法から最新の応用例まで解説。
著者紹介	１９７２年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了。現在、大阪大学特任教授。専門：物理化学、分子分光。主著「ラマン分光法」など。

タイトル	著者名	ページ
１　表面分析序論（表面分析の目的・背景；表面分析の手法　ほか）
２　赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴；ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴　ほか）
３　Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴；ＸＰＳ装置　ほか）
４　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴；ＳＩＭＳの装置　ほか）
５　番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ；Ｓｔａｔｉｃ　ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴；ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置　ほか）
付録　主な元素の化学シフト