資料詳細

走査プローブ顕微鏡利用可

重川秀実／責任編集 -- 共立出版 -- 2009.3 -- 549.97

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館	所蔵場所	請求記号	資料コード	資料区分	帯出区分	状態
鳥取県立	書庫	549.9/ｿｳｻ/一般Ｈ	117852792	一般	利用可

タイトル	走査プローブ顕微鏡
書名ヨミ	ソウサ　プローブ　ケンビキョウ
副書名	正しい実験とデータ解析のために必要なこと
シリーズ名	実験物理科学シリーズ
シリーズ巻次	第６巻
著者名	重川秀実／責任編集, 吉村雅満／責任編集, 河津璋／責任編集
著者ヨミ	シゲカワ，ヒデミ , ヨシムラ，マサミチ , カワズ，アキラ
出版者	共立出版
出版年	2009.3
ページ数等	４２５ｐ
大きさ	２２ｃｍ
内容細目	文献あり　索引あり
原書名	並列タイトル：Ｓｃａｎｎｉｎｇ　ｐｒｏｂｅ　ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ
一般件名	電子顕微鏡
ISBN	4-320-03381-7
ISBN13桁	978-4-320-03381-8
定価	９０００円
問合わせ番号（書誌番号）	1101575167
NDC8版	549.97
NDC9版	549.97
内容紹介	ＳＴＭの探針などの主要部分を、目的とする測定に適したものに置き換えた装置の総称、走査プローブ顕微鏡。その基礎知識から、よりレベルの高い使い方をするための先端技術の紹介まで、豊富な図を掲載し詳しく解説。
著者紹介	【重川】東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授。
著者紹介	【吉村】東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻博士課程中退。豊田工業大学大学院工学研究科極限材料専攻准教授。

タイトル	著者名	ページ
基礎編　プローブ顕微鏡を使う前に１　プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと（回路を理解するための基礎；信号を取り出すための基礎；振動を扱うための基礎）
基礎編　プローブ顕微鏡を使う前に２　プローブ顕微鏡の基礎（プローブ顕微鏡の仕組み；プローブ顕微鏡のファミリー；スペクトル測定の原理と留意点；周辺技術）
実践編　プローブ顕微鏡の使い方（探針の作製と評価；試料の作り方・扱い方；信号の取り方；データ解析の方法；ＳＰＭの理論シュミレーション法とその応用）
発展編　よりレベルの高い使い方をするための先端技術（溶液中の計測；生体材料計測；高分子の弾性計測；デバイス特性評価への応用；化学反応を観る；相転移を観る；スピンを測る；微細加工とＳＰＭ；ステップインモード計測；非接触ＡＦＭの展開；光技術との融合；走査型アトムプローブ；マルチプローブ計測）