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1 件中、 1 件目
はじめての半導体リソグラフィ技術
利用可
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岡崎信次/著 -- 工業調査会 -- 2003.6 -- 549.7
SDI
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所蔵は
2
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所蔵館
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
帯出区分
状態
鳥取県立
書庫
549.7/オカサ/一般H
115188660
一般
利用可
鳥取県立
書庫
549.7/オカサ/協力
140655450
協力
利用可
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資料詳細
タイトル
はじめての半導体リソグラフィ技術
書名ヨミ
ハジメテ ノ ハンドウタイ リソグラフィ ギジュツ
シリーズ名
ビギナーズブックス
シリーズ巻次
29
著者名
岡崎信次
/著,
鈴木章義
/著,
上野巧
/著
著者ヨミ
オカザキ,シンジ , スズキ,アキヨシ , ウエノ,タクミ
出版者
工業調査会
出版年
2003.6
ページ数等
305p
大きさ
21cm
内容細目
索引あり
一般件名
集積回路
,
半導体
ISBN
4-7693-1224-5
問合わせ番号(書誌番号)
1101092880
NDC8版
549.7
NDC9版
549.7
内容紹介
半導体集積回路の発展を支えてきたのは、微細なパターンを造り出す半導体リソグラフィ技術である。本書はこの変遷の激しいリソグラフィ技術の全貌を解説したもの。具体的には、光、電子線、X線・EUVなど様々なリソグラフィ技術の原理、特徴などを述べるとともに、パターン形成に重要なマスク技術、レジスト技術、計測評価技術についてふれ、さらに今後の課題と展望についても詳細に解説している。
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内容一覧
タイトル
著者名
ページ
第1章 半導体集積回路の発展とリソグラフィ技術
第2章 光リソグラフィ技術
第3章 電子線リソグラフィ技術
第4章 X線・EUVリソグラフィ技術
第5章 その他のリソグラフィ技術
第6章 マスク技術
第7章 レジスト技術
第8章 評価計測技術
第9章 リソグラフィ技術の今後の課題と展望
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