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材料評価のための分析電子顕微鏡法 利用可

進藤大輔／共著 -- 共立出版 -- 199905 -- 5015

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
鳥取県立 書庫 501.5/ｼﾝﾄ/一般Ｈ 113861358 一般 利用可

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タイトル 材料評価のための分析電子顕微鏡法
書名ヨミ ザイリョウ　ヒョウカ　ノ　タメノ　ブンセキ　デンシ　ケンビキョウホウ
著者名 進藤大輔 ／共著, 及川哲夫 ／共著  
著者ヨミ シンドウ，ダイスケ , オイカワ，テツオ  
出版者 共立出版  
出版年 199905
ページ数等 １８２ｐ
大きさ ２６ｃｍ
内容細目 文献あり　索引あり
一般件名 材料試験  
ISBN 4-320-08524-8
問合わせ番号（書誌番号） 1100510206
NDC8版 5015
内容紹介 本書では、電子顕微鏡関係の研究者に限らず、特に材料開発に携わる研究者や学生にも読みやすいものとするため、数多くの装置の模式図や解析データを掲載した。また、電子顕微鏡のハードの動作原理について詳述するとともに、分析技法としてＥＥＬＳ（電子エネルギー損失分光法）とＥＤＳ（エネルギー分散型Ｘ線分光法）を中心にその原理と応用について平易に解説している。

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
１章　分析電子顕微鏡法の基礎
２章　分析電子顕微鏡の構成と基本操作
３章　電子エネルギー損失分光法（ＥＥＬＳ）
４章　エネルギー分散型Ｘ線分光法（ＥＤＳ）
５章　分析電子顕微鏡法の周辺技法

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